平成23年7月26日
近年、自動車の安全・環境性能の向上に伴い、電子制御による新技術の利用が広まっています。この優れた性能を維持するためには、適切な点検整備を行うことが重要であり、故障を診断し必要な整備が効果的に行える汎用型のスキャンツールの活用促進や整備要員の技能向上等の人材育成が求められています。
このため、昨年度の「汎用スキャンツール普及検討会」でとりまとめた標準仕様等の検討結果を踏まえ、今般、学識経験者、関係業界、行政機関等からなる検討会を新たに開催し、その整備技術の高度化のあり方や具体的方策について検討を行うこととします。
※スキャンツールとは、自動車の装置の作動状態を外部接続して診断する「外部故障診断装置」を言います。
1.委員(別紙)
2.第1回開催日
日時:平成23年8月2日(火) 10:30~12:00
場所:経済産業省別館 11階 1111号会議室
3・ その他
本検討会は公開であり、頭撮りができます。傍聴をご希望の場合は、所属、氏名、電話番号を明記の上7月29日(金)17時までに電子メール(g_TPB_GAB_SEB@mlit.go.jp)またはFAX(03-5253-1639)で事前にご登録下さい。
なお、座席数に限りがございますので、傍聴をお断りさせていただくこともありますので、あらかじめご了承下さい。
別紙:委員(PDF形式)
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